FLUKE Process Instruments GmbH

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DIN EN ISO 9001:2015
DAkkS-Akkreditierung
WEEE (2002/96/EG)
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DIN EN ISO 9001:2015
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FLUKE Process Instruments GmbH의 ES 시트 압출 열화상 시스템

플루크 프로세스 인스트루먼트의 시트 압출용ES 열화상 시스템은 움직이는 공정과 제품에 대해 연속적이고 정확한 실시간 열화상과 온도 측정을 제공하는 다양한 라인 스캔 시스템을 갖추고 있습니다.

각 시스템은 다양한 애플리케이션에 맞게 스펙트럼과 온도 범위를 선택할 수 있도록 폭넓게 제공됩니다. 또한 이 시리즈는 특수한 애플리케이션과 산업 환경을 위해 특별히 제작된 전용 하드웨어 및 소프트웨어 옵션도 제공합니다. ES 열화상 시스템은 핫 스트립 밀, 연속 주조, 글라스 울 생산, 유리 및 플라스틱 라미네이팅 등과 같은 연속 웹 애플리케이션에 이상적입니다

MP 라인 스캐너

최대 300Hz의 스캔 속도와 한 번의 스캔으로 최대 1024개의 데이터 포인트를 스캔할 수 있는 MP 라인스캐너 시리즈는 최고 속도의 제조 공정도 완벽하게 파악할 수 있습니다. 또한 90° 시야각과 최대 200:1 광학 기능을 통해 대상 표면의 각 지점을 최대 3회까지 샘플링할 수 있어 정확한 온도 판독이 가능합니다.

각 라인 스캐너에는 빠른 정렬을 위한 라인 레이저가 내장되어 있어 설치 비용이 절감됩니다. 내장된 수냉 및 공기 정화 기능과 옵션으로 제공되는 방수 하우징은 스캐너를 유지 보수하는 데 도움이 됩니다. 또한 MP 라인 스캐너 시리즈는 표준 PC에 연결할 수 있는 사전 유선 케이블로 기존 네트워크를 활용할 수 있어 빠른 설치가 가능합니다. 또한 시스템의 다목적 Datatemp® DP 소프트웨어를 사용하면 맞춤형 작동 매개변수를 생성하고 열화상 이미지와 온도 프로파일을 쉽게 표시할 수 있습니다.

주요 기능

실시간 열화상, 최대 300Hz의 스캔 속도
라인당 최대 1024개 측정 포인트
다양한 스펙트럼 및 온도 범위 선택 가능
최대 200:1의 광학 해상도
실시간 컬러 열화상 이미지
정확한 데이터 분석
고품질 브러시리스 모터(MTBF 40,000시간)
내장 이더넷 TCP/IP 통신
PC 독립 알람 출력
PC 독립 4-20mA 인터페이스(3개 출력)
최대 10개 섹터/구역에 대한 I/O 모듈 지원(PC 독립)
정확한 정렬을 위한 내부 라인 레이저
견고한 IP65 방수 하우징
에어 퍼지로 창에 먼지와 결로 방지
최대 180°C(356°F)의 주변 환경을 위한 내장형 수냉식 냉각 장치
현장에서 교체 가능한 창

eS 시스템

소프트웨어 직관적인 ES 시스템 소프트웨어는 사용자 지정 가능한 영역과 결과가 오버레이된 각 열화상 이미지를 표시합니다. 이 소프트웨어는 여러 가지 알람 설정이 가능하며, 높은 알람은 빨간색으로, 낮은 알람은 파란색으로 표시됩니다. 구역 결과는 PLC 또는 SCADA 시스템으로 출력할 수도 있습니다.

예를 들어, 일부 애플리케이션에서는 웹이 움직이거나 여러 개의 바(예: 캐리어에 접착식 코팅 스트립과 비접착식 스트립을 번갈아 가며 배치)로 분할할 수 있습니다. "일반 섹터"를 사용하면 ES 시스템은 MP 라인스캐너를 활용하여 동적 온도 데이터를 생성할 수 있습니다. 이렇게 함으로써 "일반 섹터"는 웹이 움직일 때 웹의 위치를 추적하여 지정된 영역에 대한 정확한 분석을 영구적으로 제공할 수 있습니다.

또한 OPC(OLE for Process Control)를 활용하면 EC 열화상 시스템은 다양한 일반 공정 제어 시스템과 통신할 수 있습니다. 따라서 이 시스템은 단순한 측정 도구가 아니라 전체 공정 제어 시스템의 필수적인 부분으로 사용할 수 있습니다.

주요 기능

여러 제품별 구성(레시피) 지원
텍스트 파일 알람 로깅
페일 세이프 알람 로깅
비교 분석을 위한 참조 이미지
저장된 열화상 이미지를 타임랩스 동영상처럼 재생 가능
여러 시스템 인터페이스 디지털 및 아날로그 I/O, OPC, ASCII를 통한 데이터 직접 전달 가능
여러 MP 라인스캐너 지원
비밀번호로 보호되는 액세스 수준
다국어 지원
실시간 주변 온도 보정 또는 방사율 조정

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